Seminario de Agilent Technologies: “Medidas Avanzadas con Analizadores de Redes, Espectro e Instrumentación Modular”

Agilent Technologies anuncia el seminario “Medidas Avanzadas con Analizadores de Redes, Espectro e Instrumentación Modular”, que tendrá lugar en las siguientes fechas y ciudades:

Valencia (29 de Marzo), Bellaterra (30 de Marzo), Barcelona (31 de  Marzo) , Cantabria (5 de Abril) Bilbao (6 de Abril), San Sebastián (7 de Abril), Leganés (8 de Abril) , Madrid (13 de Abril) y
Sevilla (14 de Abril)

En la actualidad antes de lanzar el producto final al mercado éste es sometido a una gran cantidad de pruebas a lo largo del todo ciclo, desde el diseño a las verificaciones en producción, que cada vez son más complejas, estrictas y requieren de diferentes instrumentos de medida. Por ello factores como flexibilidad, modularidad, compatibilidad entre plataformas, sin olvidarnos de la rapidez y precisión, son a día de hoy posible gracias a los avances en el sector de la instrumentación.

Estos nuevos factores y filosofía de medida proporciona al usuario final la posibilidad de incrementar el rendimiento de su instrumentación, proteger la inversión, acortar el ciclo de  diseño, mejorar las características del diseño y sobre todo, utilizar menos instrumentos para acometer las mismas medidas, personalizar modularmente la instrumentación necesitada y obtener mejores prestaciones en un factor de forma más reducido.

En este seminario eminentemente práctico se realizará con la mínima instrumentación posible, una caracterización total a nivel de componente y sistema, de un dispositivo activo y un convertidor de frecuencia, donde tradicionalmente requeriríamos de múltiples instrumentos de medida.
Podrá conocer como configurar los instrumentos para acometer un gran número de medidas que van desde los parámetros S a nivel de componente y EVM a nivel de sistema, pasando por Medida de Figura de Ruido, IMD, compresión de ganancia, hasta parámetros S pulsados, NPR, Load Pull activo y ACPR entre otros.

Estas herramientas permiten a los ingenieros diseñar y testear con una sola conexión un gran abanico de dispositivos de RF y microondas utilizados en los nuevos sistemas inalámbricos, RADAR, sistemas de guerra electrónica, radios militares…



La agenda de la jornada es la siguiente

09:00    Introducción
09.15    Medidas en dispositivos activos – Parte 1
10.30    Café
11.00    Medidas en dispositivos activos – Parte 2
12.15    Medida en convertidores de frecuencia
13.30    Cierre

La inscripción a este seminario es gratuita y el número de plazas limitado. Para hacer su reserva llame al teléfono 91 631 33 00, o envíe el fax respuesta adjunto; si lo prefiere envíe un mensaje con sus datos de contacto a Esta dirección electrónica esta protegida contra spam bots. Necesita activar JavaScript para visualizarla , especificando el día y lugar al que desea asistir.

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