Métodos de análisis de sensibilidad eficientes en el CST MICROWAVE STUDIO 2010

Computer Simulation Technology (CST) anuncia la introducción de un algoritmo eficiente en el CST MICROWAVE STUDIO® (CST MWS) que permite el análisis de sensibilidad para varios parámetros en una sola simulación.

La optimización es un componente típico de cualquier flujo de trabajo en ingeniería de diseño. Con la introducción de los nuevos optimizadores globales (genetic, particle swarm) y locales (Nelder-Mead), CST abordó esta cuestión con el lanzamiento del CST STUDIO SUITE™ en 2009.

Con la versión 2010, CST da un paso más al futuro. El CST MWS 2010 ofrece un algoritmo del análisis de sensibilidad que es capaz de evaluar las dependencias del parámetro “s” en varios modelos de parámetros después de una sola simulación electromagnética en 3D. Esto significa que todas las siguientes evaluaciones para diversos  modelos de parámetros pueden ser derivadas sin el recomienzo de la simulación de onda completa.  La eficacia de este nuevo acercamiento del análisis de sensibilidad, hace del modelo basado en Monte Carlo, factible incluso para las estructuras tridimensionales complejas. Esto es debido a los resultados del parámetro “s” que están disponibles virtualmente sin ningún esfuerzo o coste de cálculo adicional.

“La sensibilidad del funcionamiento de un dispositivo a las pequeñas variaciones del parámetro es una preocupación dominante en muchos procesos de diseño,” indica el Dr. Martin Timm, director de marketing de CST. ”Los acercamientos tradicionales requieren múltiples simulaciones múltiples 3D para derivar las varias dependencias del parámetro. El nuevo análisis de sensibilidad del CST da a los ingenieros un rápido y eficiente significado  de mayor  reducción del mínimo riesgo de diseño”.
El CST MICROWAVE STUDIO, versión 2010 estará disponible a partir de enero 2010.

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